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中国台湾固纬GWinstek LCR-827高精密尝颁搁测试仪

简要描述:中国台湾固纬GWinstek LCR-827高精密尝颁搁测试仪

  • 产物型号: LCR-827
  • 品牌:
  • 更新时间:2024-08-30
  • 浏览次数:3106

LCR-827中国台湾固纬GWinstek LCR-827高精密尝颁搁测试仪的详细资料:

中国台湾固纬 LCR-827(10KHz)测试仪 产物介绍:


中国台湾固纬 LCR-827(10KHz)测试仪的具体介绍:

 


测试频率:12Hz ~ 10kHz, 489点

0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)

0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829)

100 组设定条件记忆储存、呼出功能

R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式

值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示

240 x 128 大型 LCD 显示幕

选别机介面 (LCR-826/827/829)

测试条件及测试结果同时显示在萤幕上
 

中国台湾固纬LCR-827高精密尝颁搁测试仪技术参数:

 

 
测试频率 12Hz to 100kHz (503 点) for LCR-819/829
12Hz to 10kHz (489 点) for LCR-817/827
100Hz to 2kHz (245 点) for LCR-816/826
准确度 0.05% (LCR-817/819) , 0.1%(LCR-816/826/827/829)
测试速度 34mS (LCR-826/827/829), 68mS (LCR-816/817/819)
测试电压 5mV ~ 1.275V (5mV/step) for LCR-817/819/827/829
  0.1V ~ 1.275V (5mV/step) for LCR-816/826
直流偏压 内部 2V  
外部 0 to 30V  
显示范围 串/并联等效阻抗 R 0.00001 ~ 99999k
电容 C 0.00001pF ~ 99999uF
电感 L 0.00001mH ~ 99999H
品质因素 Q 0.0001 ~ 9999
散逸因素 D 0.0001 ~ 9999
量测模式 R/Q, C/D, C/R, L/Q
等效电路 具串联与并联两种方式可供选择
记忆体 100 组
平均测试值 1 to 255 次
量测速度 慢速、中速及快速
量测值显示 &#118alue, △%, △
显示幕 240 x 128 dot matrix C.C.F.L back light LCD
介面 Handler 介面 (LCR-829/827)
使用电源 100V ~ 240V, 50/60Hz
附件 电源线 x 1,
操作手册 x 1,
测试制具: LCR-06A x 1
选购测试制具: LCR-05, LCR-07, LCR-08, LCR-09
尺寸及重量

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